0.1μm超小型粒子計數器在半導體芯片制造環(huán)境中的應用

0.1μm超小型粒子計數器在半導體芯片制造環(huán)境中的應用在半導體芯片制造過程中，對生產環(huán)境的潔凈度要求高，必須禁止因粉塵顆粒、工藝偏差等因素造成晶體短路或斷路，

控制凈化環(huán)境下的作業(yè)現場中超微小顆粒物數量，

以保證產品質量和提升產品良率，特別是對于0.1μm粒子的檢測至關重要。

 

 

在半導體芯片生產過程中，粒子計數器主要應用于：1、 Fab廠的制造工藝檢測：在晶圓的光刻、涂膠顯影、刻蝕等多個工藝環(huán)節(jié)中，使用粒子計數器檢測環(huán)境中的塵埃粒子，

確保工藝的精確性。2、G端封裝過程：在晶圓切割封裝過程中，粒子計數器同樣發(fā)揮著關鍵作用，保證封裝質量。3、 半導體設備生產工藝的質量監(jiān)測：通過粒子計數器對設備工藝點進行監(jiān)控，確保生產過程的穩(wěn)定性和產品質量。

參考法規(guī)和標準：
粒子計數器嚴格遵守ISO 21501-4法規(guī)，并滿足ISO 14644-1（2015）潔凈室懸浮粒子測試方法的要求，適用于class 1至6級的潔凈室環(huán)境。
使用方法：
參照ISO14644-1（2015）法規(guī)的內容，針對不同潔凈度等級下監(jiān)測粒徑的上限要求，通過法規(guī)內容的計算方法測算采樣點數及每個點采樣時間，

對儀器進行設定后，按照該方法進行逐個點位測試。

 

KANOMAX公司推出的超小型塵埃粒子計數器3950-00，同時監(jiān)測0.1μm和0.3μm的單位體積內的微小粒子個數，也可作為傳感器嵌入生產設備實時監(jiān)測作業(yè)現場的超微粒子，

為凈化作業(yè)環(huán)境的潔凈度評定提供依據，為芯片制造保駕護航！

 

Kanomax塵埃粒子計數器3950-00，DF性的技術革新，不僅將經典品質傳承，而且W美實現了嵌入組裝在半導體制造等裝置中。

 

既往產品尺寸難以嵌入半導體制造裝備中使用，本產品通過壓倒性的小型化，使傳感器嵌入設備中使用變?yōu)楹啽阋仔小?br />

 

致輕、致小，采樣量2.83L/min，同時測試0.1μm、0.3μm微小粒子，4.3英寸彩色觸摸屏顯示屏，可使用附帶軟件在PC上顯示測試數據。

設有RS-485、Ethernet、USB通訊接口。